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        山東立博迪科學儀器股份有限公司
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        CAMSIZER X2

        CAMSIZER X2

        測量范圍: 0.8 μm - 8 mm 粉末或懸浮液的干濕檢測

        CAMSIZER X2是一款功能強大、用途極其廣泛的粒度粒形分析儀,其測量范圍寬,結合了最先進的雙CCD鏡頭技術和靈活的分散模塊選項?;趧討B圖像分析原理(ISO 13322-2),CAMSIZER X2可在0.8μm8 mm的測量范圍內提供粉末、顆粒和懸浮液的精確粒度粒形信息。

        CAMSIZER X2產生的顆粒流,通過具有高分辨率光學系統進行表征。一個超亮LED頻閃光源和兩個高分辨率數碼相機,可以達到每秒300多張圖像的幀速率,并通過強大的軟件進行實時評估。因此,CAMSIZER X2可以在13分鐘內以最高的精確度捕捉數十萬到數百萬個顆粒的圖像。

        CAMSIZER X2提供了廣泛的顆粒信息選項,實現對樣品材料進行全面和可靠的表征。它適用于研發和日常質量控制。

         

        顆粒分析儀 CAMSIZER X2

        采用動態圖像法(ISO 13322-2)分析0.8 μm 8 mm之間的顆粒粒徑粒形信息。

        寬粒徑分布樣品的精確分析

        對于窄分布及多峰分布樣品具有極佳的分辨率

        微量過大或過小顆粒都能夠準確檢測

        結果完全可以和篩分及激光粒度儀結果進行比對

        分析評估選項豐富(不同粒徑定義的粒徑參數,多種粒形參數,顆粒圖庫,單張顆粒圖像分析等)

        重現性非常好

        典型測量時間1-3min,可測試樣品量大

        X-Change“分散模塊切換系統,適合干法和濕法測量

        超強LED光源及高分辨率相機以獲得最清晰的結果

        操作簡單,幾乎免維護

         

        Microtrac MRB獨特的雙鏡頭技術是動態圖像分析發展的里程碑。通過同時使用兩個不同放大倍數的相機,獲得了極寬的動態測量范圍。這是在沒有硬件調整或修改的情況下完成的,并且不會影響精度。每個鏡頭專用于一個測量范圍。 放大鏡頭以最高的精度分析細顆粒,而基準鏡頭以極好的統計數據檢測較大的顆粒。一個特殊的算法結合了兩個相機提供的信息,并在測量范圍內提供精確的粒徑分布,已有三十多年! 這種設計解決了許多圖像分析系統一個重大的缺點,只使用一個鏡頭,如顯微鏡。這種儀器要么在寬粒徑分布范圍內,不能正確地測量細顆粒,要么由于視野小而無法準確捕獲大顆粒。

         

        測量原理

        在測量過程中,雙CCD鏡頭同時工作:基準鏡頭(藍色)分析較大的顆粒,放大鏡頭(紅色)捕捉較小的顆粒。雙CCD鏡頭技術可確保粒度分布中所有顆粒的最佳測量條件。

         

        X-CHANGE模塊切換系統

        在顆粒通過測量區域之前,正確的樣品制備和顆粒分散與實際分析測量一樣重要。特別是對于容易團聚的細粉顆粒,充分分散對測量結果的可靠性至關重要。因此,不同的進樣方式有助于在不破壞單個顆粒的情況下實現團聚體的分散。我們的X-Change分散模塊切換系統完美地滿足了這一要求。

        精心設計,實現最大靈活性

        CAMSIZER X2的模塊化“X-Change”系統提供三種可選分散方法,允許為每種樣品類型選擇最佳分散方法:壓縮空氣分散X-jet、重力分散X-Fall、濕法分散X-Flow。模塊化及插拔式設計,允許在一分鐘內方便安全快速地交換分散模塊。


        通過壓縮空氣分散

        X-Jet分散模塊通過文丘里噴嘴分散樣品,適用于粉末的有效分析。顆粒的實際測量發生在氣流中。分散壓力可設置在0 kPa460 kPa之間。這確保了所有樣品類型的最佳分析條件。


        在液體中分散

        CAMSIZER X2還提供了使用X-Flow分散模塊分析液體中顆粒的選項。懸浮液在一個閉環中流過一個玻璃樣品池,通過鏡頭記錄顆粒圖像。集成超聲系統有助于進一步分散過程。


        通過重力分散

        X-Fall分散模塊可用于敏感樣品的無損測量,以盡量減少自由落體過程中顆粒破碎。分析后可回收樣品。


        X-JET壓縮空氣分散

        由于表面作用力,許多材料容易團聚。在通過文丘里噴嘴時,X-Jet模塊有效地分散氣流中的顆粒。分散壓力可根據單個顆粒的需要設置。例如,對于易碎顆粒,減壓可確保無損測量。通過測量區域后,樣品由真空吸塵器自動從分析儀中取出。


        X-FLOW濕法分散模塊測量

        X-Flow濕法分散模塊分析0.8μm1 mm粒徑范圍內的懸浮液。樣品在從分散槽到流動池的閉環內移動,在樣品池中,雙CCD相機系統捕捉顆粒圖像。X-Flow分散模塊配有超聲波浴和強大的離心泵,以確保高效分散。適合的分散介質是水、乙醇以及非極性有機溶劑。


        X-FALL重力分散模塊

        使用X-Fall模塊可以分析流動的、不易團聚的樣品。這種測量是無損的,因為顆粒通過視野直接從斜槽落下。X-Fall適用于粒徑最高可達8 mm的顆粒;對過大顆粒的檢測靈敏度極高。與壓縮空氣分散不同的是,X-Fall測量后樣品可以回收

         

        僅僅圖像分析法可以提供粒形信息

        散體材料的密度、流動性、緊實性、輸送特性和表面狀況等性能受顆粒形狀的影響。這使得這些參數成為許多應用領域的關鍵工藝和質量指標。

        舉例:

        磨料的棱角度

        顆粒破碎組分分析

        玻璃微珠中聚集顆粒測量

        增材制造用高分子或金屬粉末顆粒的圓度分析(直接影響流動性和包裝密度)

        針狀晶體的長度和直徑

        對砂粒的圓度進行分析,以評估其作為建筑材料或支撐劑的可使用性,或用于地質檢查

        各種參數可用于形狀量化。其中包括寬長比(縱橫比)、圓度(由面積周長比計算得出)、對稱性、凹凸度和緊密度。圓度是從顆粒角的曲率計算出來的。

         

        可與篩分儀及激光粒度儀結果比對

        僅對于球形顆粒,“粒徑”定義是明確的:直徑在所有方向和取向上相同。但是,對于非球形粒子,粒徑可能會發生很大變化,這取決于測量的方向和取向。例如,傳統的篩分分析是將篩孔大小不同的金屬絲網篩上的顆粒分離成不同的組分。 顆粒能通過的最小篩孔由顆粒的最小投影面確定。因此,篩分分析測量優先取向的顆粒,并提供主要基于顆粒寬度的信息。激光粒度儀將所有測量數據與球形顆粒模型的直徑聯系起來。只有圖像分析法可以準確同時提供不同粒徑定義的粒度信息。這使得測量結果可與其他技術獲得的結果相比較。 動態圖像法的突出優點是可以同時測量顆粒的寬度和長度,并根據這些參數提供粒度分布。顆粒寬度(紅色曲線)很容易與篩分分析結果進行比對。

         

        可選配件

        Microtrac MRB為特殊應用提供各種料斗和料槽。分散噴嘴和樣品池有不同的孔徑大小,以確保每次測量的最佳條件。CAMSIZER X2校準只需一分鐘,可以使用高精度參考校正板進行。


        漏斗和降落裝置

        為了成功測量干粉,必須將樣品連續均勻地輸送到分析儀中。為了達到最佳的進料條件,即使是易黏附粉體,我們可提供由不銹鋼或鋁硬質涂層制成的不同進樣料斗。根據設計,X-Jet模塊的進樣料斗比X-Fall模塊的長。X-Jet模塊料斗的端部可以用圓形或方形出口制造。通過在料斗上放置塑料刷,可以進一步均勻粉末流。 為了成功測量干粉,必須將樣品連續均勻地輸送到分析儀中。為了達到最佳的進料條件,即使是易黏附粉體,我們可提供由不銹鋼或鋁硬質涂層制成的不同進樣料斗。根據設計,X-Jet模塊的進樣料斗比X-Fall模塊的長。X-Jet料斗的端部可以用圓形或方形出口制造。通過在料斗上放置塑料刷,可以進一步均勻粉末流。

        進樣漏斗可方便地將樣品引入進料裝置。漏斗可由鋁或不銹鋼制成,最多可容納0.6升樣品。


        分散噴嘴

        X-jet模塊有不同尺寸的噴嘴可供選擇使用. 標準噴嘴孔尺寸為14 mm x 4 mm,適合大多數樣品分析。對于特別大或特別小的顆粒,其它尺寸的噴嘴會有一些優勢。


        參照物

        Camsizer標準校正板由電子平板印刷技術制得,可以隨時提供可靠便捷的校正服務。


        防護罩 (X-JET, X-FALL)

        防護罩可防止灰塵在測量過程中釋放到環境中。對于不應長時間暴露在環境空氣中的樣品,可使用惰性氣體進行沖洗。此外,防護罩可將噪音水平降低5分貝以上。防護罩由有機玻璃制成,可與X-Dry模塊一起使用。


        測量池(X-FLOW

        X-Flow模塊有三種優質的石英玻璃流通池可供選擇使用。流通池的間隙寬度有4mm(標準)、2mm或者1mm。


        自由落體軸(X-FALL

        對于X-Fall模塊,標準尺寸為7 mm X 14 mm,對于較大顆粒,可使用14 mm X 14 mm的自由落體模塊。

         

        擴大測量范圍

        由于專利雙CCD鏡頭系統,單次測量包含所有量程,無需手動調整。

         

        X-Fall (重力分散)

        標準量程: 10 μm -3 mm

        可選量程: 10 μm - 8 mm

         

        X-Jet (空氣壓力分散)

        標準量程: 0.8 μm-1.5 mm

        可選量程: 1 μm - 5 mm

         

        X-Flow (濕法分散)

        標注量程: 0.8 μm - 1 mm

         

        1) X-Fall的下限取決于樣品的特性(團聚與否),易團聚樣品推薦使用X-JetX-Flow模塊。

        2) X-Flow模塊的測量上限取決于樣品的密度,對于密度上限是2.5g/cm3的樣品來說600μm是標準極限。

        纖維和拉伸狀樣品可定制量程。

         

        實時的顆粒分析 —— 一切盡在 DIMENSIONS 軟件掌控之中

        DIMENSIONS 軟件包括四個結構清晰的工作區,分別是方法建立、測量運行、結果展示和結果對比的計算。 單個工作區可以與軟件分離,例如,轉移到第二臺顯示器,讓您完全控制所有相關流程和參數。 結果計算的工作區在測量期間仍然可以使用。

         

        優勢

        簡單的方法開發

        結構清晰的結果展示

        多種計算選項

         

        典型應用

        顆粒材料的許多特性,如流動性、溶解性、過濾效率、反應性、耐磨性和口感等,都受到顆粒大小的顯著影響。因此,在許多不同的行業中,粒度測定通常被用作質量控制的一部分。

         

        金屬和礦物粉末

        水泥

        化學制品

        活性炭

        清潔劑

        建筑原料

         

        藥粉/顆粒/制劑

        玻璃 / 玻璃珠

        塑料光纖

        塑料粉末

        木質纖維

         

        食物

        /

        耐火材料

        研磨劑

        沙子

         

        ... 還有更多

         

        作用原理

        Camsizer X2 采用專利數字成像體統:分散樣品經過LED光源前方,投影被雙CCD鏡頭捕捉,放大鏡頭分析小顆粒,基礎鏡頭統計整個顆粒分布。軟件界面友好,可同時分析每一個顆粒的粒度和粒形信息,最終經過軟件計算后給出實時分布曲線。

         

        測量原理

        動態圖像分析(ISO 13322-2)

        測量范圍

        0.8 μm to 8 mm
        10 μm to 8 mm (
        自由落體分散模式)
        0.8 μm to 5 mm (
        壓縮空氣分散模式)
        0.8 μm to 1 mm (
        液體分散模式)

        分析類型

        干法和濕法分析

        測量時間

        1-3分鐘(視待測樣品進樣量)

        鏡頭數量

        2

        樣品量

        < 20 mg - 500 g(視待測樣品性質和測量模式)

        測量方式<

        > 300 images/s, 每張約4.2 MPixel

        測量區域寬度

        ~ 20 x 20 mm

        分辨率

        0.8μm每像素

        測量參數

        粒度(最小粒徑、長度、平均直徑等) 顆粒形狀(縱橫比、對稱性、球形度、凹凸性等,依據ISO 9276-6標準)

        設備尺寸(寬xx深)

        ~ 850 x 580 x 570 mm

        重量 (測量單元)

        ~ 50 kg

        操作單元

        四核PC,包括Windows 10、顯示器、鍵盤和鼠標、網卡、用于硬件通信的PC接口卡、評估軟件


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